《集成电路测试指南》将半导体集成电路测试原理与实际测试实现过程相结合，内容涵盖半导体集成电路测试流程，测试原理以及集成运算放大器、电源管理芯片、电可擦除编程只读存储器芯片、微控制器芯片、数模转换芯片等产品的测试实例。

《集成电路测试指南》的特点是理论与实践相结合，避免了“纸上谈兵”。

通过学习《集成电路测试指南》，读者可以对集成电路测试有一个全面的认识，从而快速进入半导体集成电路测试工程领域。《集成电路测试指南》的主要读者是即将从事集成电路测试工作的工程师和大学或职业教育领域相关专业的学生。