《IC芯片设计中的静态时序分析实践》深度介绍了芯片设计中用静态时序分析进行时序验证的基本知识和应用方法，涉及了包括互连线模型、时序计算和串扰等影在内的响纳米级电路设计的时序的重要问题，并详细解释了在不同工艺、环境、互连工艺角和片上变化（OCV）下进行时序检查的方法。详细介绍了层次化块（Block）、全芯片及特殊IO接口的时序验证，并提供了SDC、SDF及SPEF格式的完整介绍。

《IC芯片设计中的静态时序分析实践》适合从事芯片设计和ASIC时序验证领域的专业人士，以及逻辑和芯片设计专业的学生和教师阅读。不管是刚开始使用静态时序分析，还是精通静态时序分析的专业人士，《IC芯片设计中的静态时序分析实践》都是优秀的教材或参考资料。